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一. 測試目的
為了防止人體受到傷害, 單體內(nèi)如有如下不良 : 螺絲松動, 未鎖, 零件腳裂錫, 未焊, 冷焊以及零件腳沒有插入孔內(nèi), 變壓器及零件絕緣度不佳或絕緣間隙距離不夠, 螺絲或其它異物掉落其中, FUNCTION測試無法偵測到異常之狀態(tài), 因而, 從保護(hù)產(chǎn)品質(zhì)量和產(chǎn)品的安全規(guī)則要求的角度出發(fā), 必須要能檢測出這些不良, 靜態(tài)時, 單體內(nèi)上述不良, 測試設(shè)備難找出, 只有將單體放置, 于振動系統(tǒng)中, 上述不良才可通過儀器設(shè)備測出來.
二. 測試原理
1. HI-POT TEST<高壓絕緣測試>: 利用高壓加于某一有絕緣程度的物體兩端, 通過漏電流的大小來判知物體之間絕緣性是否達(dá)到其絕緣的規(guī)格之要求, 在此, 我們是把單體的NEVTRAL與LINE短路接于高壓HV端, 輸出端與地線短路接向RETURN端, 加入高壓, 量測漏電流之大小, 來判定輸入端與輸出端, 以及輸入端對接地端絕緣度是否符合安全規(guī)格之要求,
2. GROUND CONTINVITY(接地測試):對AC輸入端的GND及待測物的外殼灌入25A的電流,測得地線與外殼不能完全接觸,這樣測量得阻值會大于0.1Ω.只有通過GROUND CONTINUITY 測試才符合安規(guī)要求,
3. ARCING TEST(電弧測試):當(dāng)高壓的兩端靠很近時,會有尖端放電現(xiàn)象產(chǎn)生,此一現(xiàn)象經(jīng)長時間的發(fā)生將可能對產(chǎn)品產(chǎn)生很大的傷害,較常見的現(xiàn)象有,當(dāng)要組件兩端加高壓時,組件腳有一個未焊住,但與焊點(diǎn)有接觸,在振動時,偶爾脫開很小幅度,從而產(chǎn)生尖端放電或有些組件絕緣層有少許的刮傷,
ARCING定義:ARC為一物理現(xiàn)象,通常是指兩端點(diǎn)之間,因距離不夠或介質(zhì)存在,
而在通電時產(chǎn)生的一個跳火現(xiàn)象,此跳火現(xiàn)象通常為非連續(xù)性的,
ARCING偵測的目的:ARC的產(chǎn)生,并不會造成產(chǎn)品立即故障或?qū)θ梭w傷害的問題,但它會隨使用時的的增長,而造成兩端點(diǎn)間的絕緣日益破壞,進(jìn)而造成機(jī)器的故障或?qū)θ梭w的危害,例如”SPS內(nèi)的PCB的螺絲鎖緊,可能會因工作一段時間后,中間介質(zhì)阻抗改變,造成浮動電位,進(jìn)一步破壞PCB內(nèi)部組件,或因ARC的產(chǎn)生,影響SPS的正常工作.因此ARC偵測的目的在防患未然,也可說是產(chǎn)品可靠度試驗(yàn),
ARC偵試線路原理:在ARC的定義列ARC為非連續(xù)性的,且約為1KHZ以上的PLUSE OR SPIKE 的高頻信號,因此ARC偵測線路原理如下:
從被測物電流訊號經(jīng)過兩回路,一為20—PASS FILTER,20—PASS FIELTER
是將電流信號轉(zhuǎn)換成RMS值,以便量測與判定,HI—PASS FILTER則是當(dāng)被測物電
流信號有ARC(高頻信號)產(chǎn)生時,將低頻濾掉,只留高頻信號,并經(jīng)過量測與判別,以上為ARC偵測線路原理.
ARC功能偵測計(jì)算:ARC的產(chǎn)生與兩端點(diǎn)間的電壓與距離有關(guān),因此,ARC的產(chǎn)生
通常在高壓時產(chǎn)生,也就是在波峰產(chǎn)生,并且ARC的高頻訊號也是載在波峰上故計(jì)算
與量測方式都是以MHP:
例(一):
測試電壓AC1250VAC時:
VP=1250*√2=1768V,以電阻500KΩ做介質(zhì)
GAP=兩端點(diǎn)距離調(diào)整至ARC剛好產(chǎn)生,約0.5MM左右
因此,ARC電流為I=V/R=1768/1500K=3.5MAP
從上述來看,可奧姆定律來計(jì)算,但此為理論值,故我們必須考慮各種誤差的可能,如
GAP大小,電阻含 性等因素.
ARC等級說明:
9等級(0.0027A)
8等級(0.0055A)
7等級(0.0077A)
6等級(0.0100A)
5等級(0.0120A)
4等級(0.0140A)
3等級(0.0160A)
2等級(0.0180A)
1等級(0.0200A)
三 測試設(shè)備:
1. AC WITHSTANDING VOLTAGE TESTER(交流抗壓測試器)
2. AC 20W RESISTANCE TESTER(交流低電阻測試儀)
3. 振動機(jī)臺.
四.測試項(xiàng)目
1.HI-POT TEST (高壓測試)
2.ARCING TEST (高弧測試)
4. GROUND CONTINUITY TEST(接地測試)
5. INSULATION (絕緣阻抗測試)
五.儀器操作(以7440為參考)
1.WITHSTANDING VOLTAGE TESTER 選擇項(xiàng)目選按AC-W鍵:
W-VOLT 1500V (按數(shù)字鍵輸入)
HIIMIT 13MA (按數(shù)字鍵輸入)
LO-LIMIT 8.0MA (按數(shù)字鍵輸入)
RAMP TIME 1S (按數(shù)字鍵輸入)
DWEU TIME 3S (按數(shù)字鍵輸入)
FREQVENCY 60HZ (已設(shè)定好)
ARC SENSE 8 (已設(shè)定好)
ARC FAIL ON (按ENTER鍵切換ON/OFF)
SCANNER SETCH (未用)
OFFSET (未設(shè)定)
CONNECT ON或OFF (按ENTER鍵切換ON/OFF)
按“V”鍵上下翻頁按‘ENTER’自動存儲,AC或DC請按ENTER鍵切換,設(shè)定一樣欲 知詳細(xì)設(shè)定,請參考使用者手冊.
AC LOW RESISTANCE TESTER
先按:GROUNDING后
CURRENT 25A (已設(shè)定好)
CURRENT 25A (已設(shè)定好)
VOLTAGE 8V (已設(shè)定好)
HI-LIMIT 0.1MΩ (按數(shù)字鍵輸入)
20-LIMIT 0MΩ (按數(shù)字鍵輸入)
PWELL TIME 2S (按數(shù)字鍵輸入)
FREQUENCY 60HZ或50HZ (按數(shù)字鍵輸入)
SCANNER CH (未用)
OFFSET (未設(shè)定)
CONNCT ON或OFF (按ENTER鍵切換)
按‘ENTER’鍵結(jié)束
六.儀器檢查
1.HI-POT的檢查
治具原理:用一個固定電阻箱檢查HI-POT的輸出電壓,根據(jù)線路原理:U=IR,計(jì)算出治具檢
測時之漏電流值,并作DAILY CHECK之比較依據(jù).
按MEMORY鍵,輸入治具上標(biāo)明之電流參數(shù),接好FAIL SAMPLE按TEST,應(yīng)聽到蜂嗚器的
叫聲,且電流值應(yīng)大于FAIL SAMPLE上標(biāo)明之漏電流值.
七.測試判定
測試不良分以下幾種:
BREAKDOWN OVER FLOW+ARC:輸出過載, 電弧信號
SHORT OVER FLOW :輸出過載
HI LIMIT FAIL OVER HI LIMIT SETTING : 電流過大失敗
ARC FAIL >10VS PEAK CURRENT DETECTING
LO LIMIT FAIL UNDER LO LIMIT SETTING : 電流過小失敗
OPEN CHANGE LO : 直流電壓緩升充電電流
OFL OVER FLOW :輸出過載
地點(diǎn):東莞市寮步鎮(zhèn)石龍坑工業(yè)區(qū) | |
手機(jī):13416973707 楊先生 | |
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